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X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，可以測定元素含量。近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得最多也廣泛。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。X熒光光譜儀的正確操作方法如下1、本儀器采用X光管產(chǎn)生激發(fā)源，因此，在不使用時，儀器會自動將X光管的高壓斷掉，使X光管的電源...

X熒光光譜儀是根據(jù)X射線滎光光譜的分析方法配置的多通道X射線熒光光譜儀，它能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量。X射線熒光(XRF)能夠測定周期表中多達(dá)83個元素所組成的各種形式和性質(zhì)的導(dǎo)體或非導(dǎo)體固體材料，其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質(zhì)物料等。凡是能和x射線發(fā)生激烈作用的樣品都不能分析，而且要分析的樣品必須是在真空(4~5pa)環(huán)境下才能測定。X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管通過產(chǎn)生入射X射線(一次X射線...

ROHS環(huán)保測試儀采用新型的光路設(shè)計，max限度解決了光路對測量Cl元素的負(fù)面影響，保證了氯(Cl)元素的檢出下限和穩(wěn)定性。融合了一系列的光譜處理方法，包括FFT(快速傅立葉變換濾波)、的背景扣除方法、自動尋峰和Quasi-Newton(準(zhǔn)牛頓)優(yōu)化算法等;優(yōu)化的V8.0分析軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動設(shè)定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能，大幅提高測量精度。用于RoHS指令管控的產(chǎn)品：大型家電、小型家電、信息技術(shù)及通訊設(shè)備、電動工具、玩具等設(shè)備Ux-...

ROHS鹵素檢測儀作為檢測和幫助排查鹵素氣體泄露情況的重要儀器，該儀器正被物盡其用地運用在各個領(lǐng)域之中。儀器具有手持、小巧便捷等特點，誠信的鹵素檢測儀可以有效幫助檢測出產(chǎn)品或者環(huán)境中的鹵素氣體。如此重要的工作輔助儀器，當(dāng)然需要好好保養(yǎng)，接下來告訴大家一些ROHS鹵素檢測儀維護(hù)保養(yǎng)的方法。下面讓我們一起來了解一下吧：1、維護(hù)儀器的清潔精密性儀器的衛(wèi)生非常重要，需要時時保持。平日的使用過程中不要將鹵素檢測儀放置在衛(wèi)生環(huán)境差、有很多粉塵碎屑的地方;因為這樣可能會導(dǎo)致雜物侵入機(jī)器內(nèi)部...

ROHS鹵素檢測儀在各個領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級的需求，特別設(shè)計該款。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)品的可靠性;利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。是一款經(jīng)濟(jì)、實用、操作簡便的X射線熒光光譜儀;對鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)、溴(Br)、氯(Cl))等元素有很好的檢測下限以及精度。下面讓我們一起來了解一下ROHS鹵素檢測儀的注意事項吧要注意測量使用的環(huán)境在測定水分過程中，要注意保證工作臺穩(wěn)定，忌在水分測定儀前方有流動的風(fēng)及...

使用鍍層測厚儀與使用其他儀器一樣，既要掌握儀器性能，也需了解測試條件。使用磁性原理和渦流原理的鍍層測厚儀都是基于被測基體的電、磁特性及與探頭的距離來測量覆層厚度的。所以，被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的可靠性，下面就這方面的問題作一下介紹。1.邊界間距如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測量誤差。如必須測量該點的覆層厚度，只有預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)，才...

可能會影響到EXF鍍層測厚儀測量結(jié)果的因素有哪些你知道么?下面讓我們來了解一下吧。影響測量結(jié)果因素的有關(guān)說明1.基體金屬磁性質(zhì)磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。2.基體金屬電性質(zhì)基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。3...

XRF鍍層測厚儀主要用于測量金屬材料的涂層厚度。但是，由于測量對象、測量方法、測量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引入了大量的測量誤差，為了保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，有必要進(jìn)行不確定性分析。XRF鍍層測厚儀可同時測量磁性基材表面的非磁性涂層(如鋼鐵)(如油漆、陶瓷、鉻等)和非磁性金屬基材表面的非導(dǎo)電涂層(如油漆等)。儀器內(nèi)置高精度集成探頭，可通過電磁感應(yīng)和渦流效應(yīng)自動檢測襯底性能和鍍層厚度，并可通過晶格液晶快速顯示結(jié)果。同時，測量數(shù)據(jù)可以成組保存，統(tǒng)計數(shù)據(jù)可以實時顯示。用戶可為每組設(shè)...